XPS使-

Alberto Herrera-Gomez1, Dulce Guzman-Bucio1, Dagoberto Cabrera-German2

  • 1CINVESTAV-Unidad Queretaro, Cinvestav 76230, Queretaro, Mexico.

概括

这项研究引入了一种新的窄雪莉 (NS) 背景方法,用于X射线光电谱 (XPS) 分析内在的背景信号. 研究表明,通道间合与价值带损失 (ICVBL) 解释了整个内在的背景结构.