低Z和中Z元素的分析使用基于同步仪的总反射X射线光在Indus-2的BL-16光线的BL-16光线
Ayushi Trivedi1,2, Ajay Khooha1, P K Gauttam1
1Accelerator Physics and Synchrotrons Utilization Division, Raja Ramanna Centre for Advanced Technology, Indore 452013, India.
一个新的真空兼容的全反射X射线光 (TXRF) 系统被委托用于检测低Z和中Z元素. 该系统提供了增强的元素检测功能,用于各种应用中的痕迹分析.
科学领域:
- 分析化学 分析化学
- 材料科学 材料科学 材料科学
- 物理 物理学 物理
背景情况:
- 在各种科学和工业领域,精确确定低Z (例如Na,Mg,Al,Si,P,S) 和中Z (例如Mo,Ru,Pd,Ag,Cd,Sn) 元素至关重要.
- 基于同步射线的全反射X射线光 (TXRF) 是一种用于微量和超微量元素分析的强大技术.
研究的目的:
- 介绍一个新的真空兼容TXRF系统的调试结果.
- 评估该系统在Indus-2同步电机设施的BL-16光束线上检测低Z和中Z元素的能力.
主要方法:
- 在Indus-2同步发射机设施 (BL-16) 启用一个新的真空兼容的TXRF系统.
- 低Z元素 (Na,Mg,Al,Si,P,S) 在6 keV激发能量的分析.
- 使用Lα峰值对中等Z元素的分析.
- 确定相对灵敏度 (Sj) 对于Sc.
- 使用ICP多元元素标准IV的验证.
- 在子水中测定低Z元素的应用.
主要成果:
- 低Z元素 (Na-S) 的检测极限在2μg~15 ng之间.
- 中等Z元素 (Mo-Sn) 的检测极限在19 ng~5 ng之间.
- 确定和验证了相对灵敏度 (Sj).
- 在子水样本中成功确定低Z元素.
结论:
- 新投入使用的TXRF设置在BL-16光线线上展示了增强的元素检测能力.
- 该系统能够对低Z和中Z元素以及其他元素进行可靠的分析.
- 这一进步支持半导体,生物科学,制药和能源领域的关键应用.
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