Tom Fraysse1, Robin Cours1, Hugo Lourenço-Martins1

  • 1CEMES-CNRS, Université de Toulouse, CNRS, Toulouse, France.

Ultramicroscopy
|January 10, 2026
PubMed
概括

这项研究使用灾难理论来分析带电粒子仪器中的有毒物质. 它揭示了偏差系数之间的通用数学关系,有助于设计正确的光学系统.