您也可能阅读
通过共同作者、期刊和引用图与本文相关的文章。
Ioannis Leontis1, Karl Jonas Riisnaes1, Hoi Tung Lam1
1Centre for Graphene Science, College of Engineering, Mathematics and Physical Sciences, University of Exeter, Exeter, EX4 4QL, UK.
门电压瞬态光谱 (TVTS) 有效地描述2D混合矿器件中的陷状态. 这种方法揭示了陷动态如何影响各种设备功能的光电子性能.
科学领域:
背景情况:
研究的目的:
主要方法:
主要成果:
结论: