从光电子到辐射检测:矿闪器的光输出挑战
Matteo L Zaffalon1,2, Luca Gironi2,3, Martin Nikl4
1Dipartimento di Scienza dei Materiali, Università degli Studi di Milano-Bicocca, Via R. Cozzi 55, 20125 Milan, Italy.
概括
精确测量化 PeroVskite (LHP) 薄膜闪器中的光产量 (LY) 是由于能量损失和光学效应而具有挑战性的. 这项工作提出了在这些先进的辐射检测材料中可靠地确定LY的准则.
科学领域:
- 材料科学 材料科学 材料科学
- 纳米技术纳米技术
- 辐射检测检测器可以检测到辐射.
背景情况:
- 化 Perowskites (LHPs) 是下一代闪器的有希望的纳米材料.
- 薄膜和纳米晶格式提供了诸如可扩展性和可调节发射等优势.
- 对这些新兴材料来说,准确的光产量量化是至关重要的,但也是具有挑战性的.
研究的目的:
- 为了解决LHP闪光灯LY特征的关键方法限制.
- 为了突出与散装晶体相比,薄膜LY测量的困难.
- 为准确和可重复的LY确定提出实际指导方针.
主要方法:
- 对LY的理论框架的审查.
- 分析传统散装闪电器表征协议中的局限性.
- 讨论能量沉积建模和薄膜光学损失机制.
主要成果:
- 目前的LY表征方法对于薄膜LHP闪电器是不够的.
- 减少的能量沉积,光学损失和取决于几何的光提取使LY测量变得复杂.
- 现有的协议往往会扭曲LY值,阻碍材料比较.
结论:
- 对于LHP薄膜闪器,需要标准化,准确的LY测量协议.
- 精确的能量沉积建模和考虑光学效应是必不可少的.
- 建议制定指导方针,以实现公平的材料比较和先进的辐射检测技术.


