在特拉赫兹时域极度测量系统的现场校准,使用漏电线网极化器

科学领域:

• 光学和光子学 在光学和光子学.
• 频谱学是一种光谱学.
• 材料科学 材料科学 材料科学

背景情况:

• 对偏振敏感的测量提供了丰富的材料洞察力,但需要精确的校准.
• 宽带光谱成像系统,如太赫兹时域极度测量 (THz-TDP),由于频率依赖的偏振器性能和制造错误而面临挑战.
• THz-TDP 是一种强大的化学分析技术,但比光学或红外技术开发较少.

研究的目的:

• 为THz-TDP成像系统提供一个通用的现场校准技术.
• 为了解决THz极度度学中理想极化器模型的局限性.
• 为了提高THz-TDP系统校准的准确性和一致性.

主要方法:

• 开发了一种通用的现场校准技术,使用在参考镜上旋转的偏振器.
• 包含一个漏电的,取决于频率的电线网极化器模型.
• 同时从单个测量中提取偏光器响应和系统校准参数.
• 在使用两个不同的电线网偏振器的手持偏振THz扫描仪上实施和验证了该方法.

主要成果:

• 与理想的极化器模型相比,拟议的校准方法在整个光谱和视野中提供了更一致和更准确的参数.
• 考虑到漏电的偏振器模型,可以显著提高校准准确度.
• 该技术成功校准了系统,即使有不完美的和先验未知的偏振器反应,在不同的灭绝比率中得到验证.

结论:

• 一般化的现场校准技术提高了THz-TDP成像的可靠性和准确性.
• 这种方法可以使用THz光谱学更精确地描述材料属性.
• 这种方法是稳固的,适用于有不完美的偏振器的THz-TDP系统,进步了太赫兹偏振测量领域.