II-VI

Feng Tang1, Xinrui Li1, Xingtong Chen1

  • 1State Key Laboratory of Bioinspired Interfacial Materials Science, Chemical Engineering and Materials Science, Soochow University, Suzhou, Jiangsu 215123, China.

概括

了解体量子点 (CQD) 中的陷状态对于设备性能至关重要. 这项研究揭示了CQD中的高电子陷密度,并展示了通过外和连接体工程来显著减少它们的方法.