SEM,.

Xiaowei An1, Shenghua Teng2, Zhuopeng Wang2

  • 1College of Electrical Engineering and Automation, Shandong University of Science and Technology, Qingdao, 266510, Shandong, China.

概括

本研究引入了一种新的超分辨率 (SR) 框架,使用隐式神经表示和半方格分割优化来减少扫描电子显微镜 (SEM) 中的辐射损伤. 该方法提高了图像质量,并确保了精确测量的稳定性.