Vision
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Language Development
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Ziyue Wang1, Yichen Yang2, Jianning Chu3
1School of Intelligent Manufacturing, Jianghan University, Wuhan 430056, China.
本研究介绍了YOLO-LA,这是用于晶圆缺陷识别的视觉语言框架. 它通过将视觉模式与缺陷描述相结合来提高准确性,提高半导体制造产量.
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