,

Zhong-Jie Wang1,2, Tao Liu1,2, Xue-Lu Liu1,2

  • 1State Key Laboratory of Semiconductor Physics and Chip Technologies, Institute of Semiconductors, Chinese Academy of Sciences, Beijing 100083, China.

PubMed
概括

这项研究提出了一种新的方法来测量侧向空间分辨率 (LSR) 在使用石墨烯的共聚焦拉曼显微镜. 最佳的LSR取决于精确的激光聚焦和针孔大小,这对于纳米级成像至关重要.