Metal-Semiconductor Junctions
Biasing of Metal-Semiconductor Junctions
Biasing of FET
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Ti Xie1, Qinqin Wang1, Hongrui Zhang2
1Department of Electrical and Computer Engineering and Quantum Technology Center, University of Maryland, College Park, MD, USA.
研究人员使用2D材料开发了全新的万德瓦尔斯 (vdW) 多铁道结 (MFTJs). 这些自旋电子设备表现出增强的多态电阻,为高性能磁电纳米设备铺平了道路.
科学领域:
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主要成果:
结论: