在FS-LASIK,KLEX和横皮PRK后角膜上皮厚度的纵向变化:系统性审查和元分析
Tsung-Hsien Tsai1,2, Jui-Hung Hsu3, Ling-Shuo Chang4
1Department of Ophthalmology, Chang Gung Memorial Hospital, Keelung, 204, Taiwan.
Journal of cataract and refractive surgery
|February 25, 2026
概括
在激光视力校正后,角膜上皮质厚度的变化不同. Femtosecond激光辅助 in situ 角膜切除术 (FS-LASIK) 和角膜折断晶状体提取 (KLEx) 显示出早期的加厚,而横体光折断角膜切除术 (tPRK) 显示出延迟的再生.
科学领域:
- 眼科医生 眼科 眼科
- 折射手术是一种折射手术.
- 角膜生理学 角膜生理学
背景情况:
- 角膜上皮的厚度对于折射性手术的结果至关重要.
- 了解纵向变化是优化手术技术的关键.
研究的目的:
- 为了比较 FS-LASIK,KLEX 和 tPRK 后的角膜上皮质厚度变化.
- 确定影响这些变化的因素.
主要方法:
- 33项研究的系统综述和元分析 (2579只眼睛).
- 提取基线和术后上皮质厚度的数据.
- 超回归分析以确定厚度变化的预测因素.
主要成果:
- FS-LASIK和KLEX显示了早期的中央上皮质加厚.
- tPRK最初稀释了上皮质,然后加厚.
- 更高的近视校正和编程的光区大小影响了厚度变化.
结论:
- FS-LASIK和KLEX表现出快速的上皮重塑,而tPRK显示出延迟的再生.
- 基线SE和编程OZ预测上皮质厚度的变化.
- 特定程序的改造配置文件可以改进折射规划.
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