一种曲率适应的阶段阵列合成光圈聚焦方法,用于在圆柱状部件中检测缺陷和量化尺寸
Hanlei Liu1, Wenhao Guo2, Junfeng Zhang3
1Graduate School of China Academy of Engineering Physics, Beijing 100193, China.
Ultrasonics
|February 26, 2026
概括
这项研究引入了一种先进的阶段阵列超声波合成光圈聚焦技术 (SAFT),以提高曲表面上的缺陷检测分辨率. 该方法准确地识别了小的,距离很近的缺陷,提高了非破坏性测试的可靠性.
科学领域:
- 材料科学 材料科学 材料科学
- 非破坏性测试 不破坏性测试
- 超声波测试 超声波测试 超声波测试
背景情况:
- 在曲面的部件中检测缺陷对传统的超声波测试方法构成挑战.
- 当前的合成光圈聚焦技术 (SAFT) 方法在应用于曲面几何时可能会出现采样问题.
研究的目的:
- 为了提高横向空间分辨率和缺陷量化精度在超声波测试的曲面.
- 为了减轻重建网格和从曲线测试对象获得的数据之间的采样不匹配.
主要方法:
- 一种分相阵列超声波合成光圈聚焦技术 (SAFT),采用自适应网格尺寸优化.
- 一种距离增大方法,用于精确的缺陷量化.
- 使用 10 MHz 线性相位数组探针进行数据采集.
主要成果:
- 拟议的方法可靠地识别了六个人造缺陷 (0.4-2毫米),在片上具有最小的边缘距离 (0.8毫米).
- 与常规的SAFT和传统的阶段阵列超声波测试相比,证明了更高的性能.
- 实现了90%的检测概率在95%的信心0.51毫米的缺陷.
结论:
- 开发的阶段数组SAFT方法显著提高了曲表面上的缺陷检测和尺寸精度.
- 这种技术为复杂几何形状的非破坏性评估提供了更高的可靠性.
- 适应性电网优化和量化方法解决了当前超声波测试方法的关键局限性.
