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Zhenghui Feng1, Xiaodan Hong2, Yingxing Li3
1School of Science, Harbin Institute of Technology, Shenzhen 518055, China.
本研究引入了一种新的方法,通过将曲线投射到低维特征空间中来检测功能数据中的异常. 该方法有效地识别了微妙的偏差,改善了数据完整性和在各种应用程序中发现异常.
科学领域:
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研究的目的:
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主要成果:
结论: