,

Xiangchao Zhang1,2, Qianru Zheng2, Di Li3

  • 1Jianghuai Advanced Technology Center, Hefei 230088, China.

PubMed
概括

一个新的双通道光学检查系统结合了暗场散射和衍射相显微镜,用于敏感的晶圆缺陷检测. 这种先进的技术提高了半导体制造的灵敏度和可靠性.