在第三手术期间下膜神经损伤的断层成像中的预测因素:系统性审查和元分析
Claudine Thereza-Bussolaro1, Nathalia Fagundes2, Camila Pacheco-Pereira2
1School of Dentistry, University of Cuiaba, Mato Grosso, Brazil; Mike Petryk School of Dentistry, University of Alberta, Edmonton, Alberta, Canada.
Journal of the American Dental Association (1939)
|March 2, 2026
概括
本综述确定了关键的断层扫描特征,如缺席的皮层骨和形通道,这些特征可以预测第三骨提取过程中下膜神经 (IAN) 损伤风险. 放射科医生应报告这些发现,以指导外科决定和患者安全.
科学领域:
- 牙科 牙科是指牙科的专业.
- 口腔和面放射学 口腔和面放射学
- 外科手术的结果
背景情况:
- 下膜神经 (IAN) 损伤是第三骨提取的潜在并发症.
- 需要预测模型来识别患有IAN损伤高风险的患者.
- 断层成像在评估解剖学风险因素方面发挥着至关重要的作用.
研究的目的:
- 系统地审查和总结现有的预测模型,以识别在第三骨提取后面临下膜神经 (IAN) 损伤高风险的患者.
- 为了确定下沟通道与增加IAN损伤风险相关的特定断层特征.
- 为临床实践提供基于证据的建议.
主要方法:
- 对回顾性和前性队列研究,随机临床试验和嵌套病例控制研究的系统审查.
- 对断层成像 (手术前和后) 的分析,以评估下管道特征和IAN损伤风险.
- 应用推评估,发展和评价 (GRADE) 框架的评级,以评估证据的确定性.
主要成果:
- 在18项研究中,发现了8种可预测IAN损伤的断层扫描特征.
- 对于一些特征,包括皮层骨的缺失 (OR,9.87),形运河 (OR,8.25) 和舌头位置 (OR,3.82) 等,发现了高确定性证据.
- 具有所有三种特征的患者表现出明显增加IAN损伤的风险 (OR,5.06).
结论:
- 口腔和面放射科医生应向牙科外科医生和患者报告发现的高风险断层扫描特征.
- 建议考虑较少创伤性的外科手术技术和预防措施,以尽量减少IAN受伤风险.
- 早期识别高风险特征可以为手术规划提供信息,并可能预防神经损伤.
