X线:,

Jing Li1,2, Yongjing Zhou1,2, Yucheng Huang1,3

  • 1Shenzhen Institute of Advanced Technology, Chinese Academy of Sciences, Shenzhen, P. R. China.

Small methods
|March 4, 2026
PubMed
概括

矿材料正在彻底改变X射线检测,因为它们的优良性能,使敏感和高分辨率的成像. 这篇评论涵盖了它们的制造,与薄膜晶体管 (TFT) 和互补金属氧化物半导体 (CMOS) 阵列的集成,以及未来的潜力.