基于延迟线阳极的高性能二维光子计数成像探测器

Yalong Zhang1,2, Yongan Liu1, Xianghui Yang1

  • 1State Key Laboratory of Transients Optics and Photonics, Xi'an Institute of Optics and Precision Mechanics, Chinese Academy of Sciences, Xi'an 710119, China.

概括

一个新的微通道板检测器使用交叉延迟线 (XDL) 阳极来实现高空间分辨率和高计数率. 这种先进的探测器为粒子检测和成像应用提供了精确的定时和线性.