基于延迟线阳极的高性能二维光子计数成像探测器
Yalong Zhang1,2, Yongan Liu1, Xianghui Yang1
1State Key Laboratory of Transients Optics and Photonics, Xi'an Institute of Optics and Precision Mechanics, Chinese Academy of Sciences, Xi'an 710119, China.
The Review of scientific instruments
|March 9, 2026
概括
一个新的微通道板检测器使用交叉延迟线 (XDL) 阳极来实现高空间分辨率和高计数率. 这种先进的探测器为粒子检测和成像应用提供了精确的定时和线性.
科学领域:
- 物理 物理学 物理
- 仪器化 仪器化 仪器化
- 探测器技术 探测器技术
背景情况:
- 微通道板式探测器对于检测粒子和辐射至关重要.
- 在探测器设计中,同时实现高空间分辨率和高计数速率仍然是一个挑战.
研究的目的:
- 提出和评估一种使用直接采集交叉延迟线 (XDL) 阳极读取结果的新型微通道板检测器.
- 通过时间信号转换来证明一个系统平衡高空间分辨率和高计数率.
主要方法:
- 探测器设计包括一个交叉延迟线 (XDL) 阳极,用于空间到时间信号转换.
- 一个高速的时间到数字转换器处理时间信号进行读出.
- 包括非线性,定时精度,空间分辨率和计数率在内的性能指标被实验评估.
主要成果:
- 该探测器实现了空间分辨率高于70微米,最大计数速率为1MHz.
- 卓越的定时精度被证明,单通道精度低于26 ps.
- XDL编码系统显示出良好的线性,差异和积分非线性分别低于0.22和2.29 LSB.
结论:
- 开发的微通道板检测器有效地集成了高空间分辨率和高计数速率.
- 该系统的性能使其适合于诸如粒子检测,光束诊断,紫外线天文学和辐射成像等苛刻的应用.
- 未来的改进将集中在数据传输和电子设计优化上.


