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Yalong Zhang1,2, Yongan Liu1, Xianghui Yang1
1State Key Laboratory of Transients Optics and Photonics, Xi'an Institute of Optics and Precision Mechanics, Chinese Academy of Sciences, Xi'an 710119, China.
一个新的微通道板检测器使用交叉延迟线 (XDL) 阳极来实现高空间分辨率和高计数率. 这种先进的探测器为粒子检测和成像应用提供了精确的定时和线性.
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