Semiconductors
Types of Semiconductors
Metal-Semiconductor Junctions
Fermi Level Dynamics
Scanning Electron Microscopy
Biasing of Metal-Semiconductor Junctions
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1College of Integrated Circuit Science and Engineering, Nanjing University of Posts and Telecommunications, Nanjing 210023, China.
信息技术的进步面临着当前材料的局限. 新的3D纳米结构提供了一条超越这些限制的道路,以实现更快,更高效的电子产品.
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