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Yating Cui1,2, Ye Yuan3, Zan Zhang4

  • 1State Key Laboratory of Optoelectronic Materials and Devices, Institute of Semiconductors, Chinese Academy of Sciences, Beijing 100083, China.

PubMed
概括

这项研究引入了一种新的光子芯片上光谱仪,使用级联的马赫-泽恩德干扰仪 (MZIs). 它实现了高分辨率的光谱分析,具有紧的,低功耗的设计,用于先进的材料表征.