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Junwen Xue1,2, Wuzhi Chen1, Shida Zhang1
1School of Optoelectronic Engineering, Changchun University of Science and Technology, Changchun 130022, China.
本研究引入了一种改进的U-net模型,用于检测涂层表面的微裂,实现高精度和检测7微米小的裂. 该方法在具有挑战性的条件下提高了裂的可见性和稳定性.
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