使用改进的U-Net网络基于概率地图融合的低对比涂层表面微裂纹检测

Junwen Xue1,2, Wuzhi Chen1, Shida Zhang1

  • 1School of Optoelectronic Engineering, Changchun University of Science and Technology, Changchun 130022, China.

PubMed
概括

本研究引入了一种改进的U-net模型,用于检测涂层表面的微裂,实现高精度和检测7微米小的裂. 该方法在具有挑战性的条件下提高了裂的可见性和稳定性.