Phase contrast in Simultaneous Topography and Recognition imaging

M C Fuss1, E Sahagún, M Köber

  • 1Instituto de Microelectrónica de Madrid, Consejo Superior de Investigaciones Científicas, Isaac Newton 8, 28760 Tres Cantos, Madrid, Spain. mcfuss@imaff.cfmac.csic.es

Ultramicroscopy
|June 16, 2009
PubMed