. . . . . . . . . .

Matthew Mecklenburg1, William A Hubbard2, E R White2

  • 1Center for Electron Microscopy and Microanalysis, University of Southern California, Los Angeles, CA 90089, USA. matthew.mecklenburg@usc.edu regan@physics.ucla.edu.

Science (New York, N.Y.)
|February 7, 2015
PubMed
まとめ

研究者は,マイクロ電子機器のナノスケール温度グラデーションをマッピングするための新しい方法を開発しました. この技術は,アルミニウムワイヤの密度変化を正確に測定し,熱分析のための高い精度と解像度を提供します.