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Sung-Ho Park1, Ryun-Han Koo1, Jonghyun Ko1
1Department of Electrical and Computer Engineering and Inter-university Semiconductor Research Center, Seoul National University, Seoul, Republic of Korea.
フラッシュメモリ上に安全なニューラルネットワークを開発し、クローニングやデータ盗難に対する耐性を高めました。この物理的複製不可能なニューラルネットワーク(PUNN)は、プライバシーが重要なアプリケーションにおいて機密情報を保護します。
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