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Updated: Jul 11, 2025

Quantifying X-Ray Fluorescence Data Using MAPS
Published on: February 17, 2018
使用批量标准对未支持的薄膜X射线光谱进行量化.
Nicholas W M Ritchie1, Andrew Herzing1, Vladimir P Oleshko1
1National Institute of Standards and Technology, Gaithersburg, MD 20899, USA.
这项研究引入了一种新的量化模型,用于使用X射线光谱分析薄膜. 该模型准确地确定单层和多层薄膜的组成和质量厚度,增强材料分析.
科学领域:
- 材料科学 材料科学 材料科学
- 分析化学 分析化学
- 物理 物理学 物理
背景情况:
- 精确量化薄膜对于材料的表征至关重要.
- 现有的方法可能会面临多层结构和元素重叠的挑战.
- 来自散装材料的标准X射线光谱为改进分析提供了潜在的资源.
研究的目的:
- 提出一种新的多变量量化模型,用于确定无支薄膜的组成和质量厚度.
- 将该模型的适用性扩展到单层和多层薄膜系统.
- 为了利用散装材料的X射线光谱,提高薄膜分析的精度.
主要方法:
- 开发一个多变量代模型,利用来自散装材料的标准X射线光谱.
- 该模型应用于单层薄膜,每个元素至少有一个特征X射线线.
- 将模型扩展到多层薄膜,容纳与单层或多层附加数据相关的元素.
主要成果:
- 量化模型成功地确定了单层和多层薄膜的组成和质量厚度.
- 该模型有效地处理使用批量标准光谱的薄膜光谱的峰值干扰,特别是在能量分散式X射线光谱学中.
- 该算法的性能得到实验数据和蒙特卡洛模拟的支持.
结论:
- 提出的量化模型为分析薄膜组成和质量厚度提供了可靠的方法.
- 该模型的灵活性和准确性被证明用于各种薄膜配置,包括复杂的多层系统.
- 将算法集成到国家标准与技术研究所DTSA-II软件中,有助于其在材料研究中的广泛应用.
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