关于超低功率非易失性记忆的TCAD模拟研究
Ziming Xu1,2, Jinshun Bi2,3, Mengxin Liu1,2,4
1Institute of Microelectronics of Chinese Academy of Sciences, Beijing 100029, China.
Micromachines
|December 23, 2023
概括
超低功率非易失性存储器 (UltraRAM) 在低电压下提供非易失性数据保留. 通过稀释通道层,可将存储窗口显著增加80%,从而实现更快,更高性能的内存应用.
科学领域:
- 材料科学 材料科学 材料科学
- 电气工程 电气工程
- 半导体物理 半导体物理
背景情况:
- 超低功率非易失性内存 (UltraRAM) 是一个有前途的存储技术,吸引了大量的研究兴趣.
- 超级RAM使用InAs/AlSb异构结构,具有较大的导电带偏移和共振道,用于在低电压 (≤2.6V) 中保留非挥发性数据.
研究的目的:
- 系统地研究UltraRAM的结构,存储机制和改进策略.
- 为了提高存储窗口的清晰度和UltraRAM设备的速度性能.
- 为了解决UltraRAM中一个小存储窗口的限制.
主要方法:
- 介绍了UltraRAM的基本结构和工作原理.
- 通过模拟验证了带结构和存储机制.
- 提出并模拟了一种减少通道层厚度以增加存储窗口的策略.
主要成果:
- 通过稀释通道层,在存储窗口中显著增加了80%.
- 成功实现了数据存储操作,脉冲宽度为10 ns.
- 验证了UltraRAM的卓越性能,包括低工作电压和出色的非挥发性.
结论:
- 稀释通道层是提高UltraRAM性能,特别是存储窗口的有效策略.
- 超级RAM显示了高速,非易失性数据存储应用的潜力.
- 这些发现为进一步优化和扩展UltraRAM的功能提供了基础.


