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Yu-Shu Ni1, Wei-Lun Chen1, Yi Liu2
1Department of Electronics Engineering, Institute of Electronics, National Yang Ming Chiao Tung University, Hsinchu City 300, Taiwan.
本研究介绍了自适应融合半监督自学 (AFSL) 方法,以提高自动光学检查 (AOI) 中使用较少标记数据的对象检测. 在缺陷检测任务中,AFSL显著提高了模型精度和效率.
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