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Yonghui Zhang1,2, Rui Zhu2,3, Wenxing Huo4
1School of Physics and Optoelectronic Engineering, Shandong University of Technology, 255000 Zibo, Shandong P. R. China.
这项研究引入了一种使用β-Ga2O3/SiO2/Si.的新型深紫外光电子记忆. 它通过利用漏洞捕获的缺陷来实现超过10年的数据保留,增强非易失性存储能力.
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