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Updated: Jun 1, 2025

High-Throughput Analysis of Optical Mapping Data Using ElectroMap
Published on: June 4, 2019
Christian Zietlow1, Jörg K N Lindner1
1Nanopatterning-Nanoanalysis-Photonic Materials Group, Department of Physics, Paderborn University, Warburgerstr. 100, Paderborn, 33098, Germany.
在电子能量损失光谱学 (EELS) 中理解噪声至关重要. 本研究提供了一个噪声模型和方法来描述噪声参数,以改善扫描传输电子显微镜 (STEM) EELS数据质量.
科学领域:
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研究的目的:
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主要成果:
结论: