您也可能阅读
通过共同作者、期刊和引用图与本文相关的文章。
Uidon Jeong1, Doory Kim1,2,3,4
1Department of Chemistry, Hanyang University, Seoul, 04763, Republic of Korea.
一种新的无标签的反向点积累用于纳米尺度地形成像 (PAINT) 方法使厚厚,不透明的无机材料的纳米成像成为可能. 这一突破克服了半导体晶片分析和缺陷检查的局限性.
科学领域:
背景情况:
研究的目的:
主要方法:
主要成果:
结论: