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Optics express
|August 13, 2025
PubMed
概括

本研究介绍了一种新的方法,利用有效指数 (neff) 和组指数 (ng) 来从在绝缘体 (SOI) 条形波导中提取尺寸. 该技术使用单一的高阶马赫-泽恩德干扰仪 (MZI) 进行精确的波导特征.