MOS Capacitor
Non-ohmic Devices
Time and frequency -Domain Interpretation of Phase-lead Control
您也可能阅读
通过共同作者、期刊和引用图与本文相关的文章。
Shunsuke Mori1, Shogo Hatayama2, Yuji Sutou1,3
1Department of Materials Science, Graduate School of Engineering, Tohoku University, 6-6-11 Aoba-yama, Aoba-ku, Sendai, 980-8579, Japan. shunsuke.mori@edu.k.u-tokyo.ac.jp.
本研究探讨了用于相变记忆的 telluride (MnTe) 中的转移稳定的 wurtzite 类型 β' 阶段. 控制其电阻率和体积分数调整内存性能,对于先进的3D X 点架构至关重要.
科学领域:
背景情况:
研究的目的:
主要方法:
主要成果:
结论: