电光调制器的高精度对齐方法通过结合的Twyman-绿色和可诺斯科普干扰测量
Peng Zhang1, Qi Lu2
1Beijing Institute of Tracking and Telecommunication Technology, Beijing 100094, China.
Sensors (Basel, Switzerland)
|October 16, 2025
概括
这项研究引入了一种用于精确对准电光调制器 (EOMs) 的新方法,使用结合的Twyman-Green和可诺斯科普干涉测量,这对于量子通信和成像至关重要.
科学领域:
- 光学和光子学 在光学和光子学.
- 材料科学 材料科学 材料科学
背景情况:
- 电光调制器 (EOM) 对于先进的光学系统至关重要.
- 精确调整EOM是传统方法的挑战.
- 精确的光学轴,传输轴和亚齐图斯对齐对于性能至关重要.
研究的目的:
- 为EOMs开发一个高精度的对齐方法.
- 为了克服当前对齐技术的局限性.
- 为了实现量子通信和高分辨率成像的最佳性能.
主要方法:
- 结合了Twyman-Green和可诺斯科普干扰测量的协同作用.
- 图曼-格林系统用于电光晶体的光学轴对齐.
- 在变化的电压条件下,用于传输轴和亚齐图斯对齐的共视干扰测量.
主要成果:
- 实现了对EOM组件的异常准确对齐.
- 在传动轴对齐方面,证明的根平均平方误差低于0.2862mrad.
- 使用Z切割LiNbO3调制器验证了与0.3229mrad以下的根平均平方误差的亚齐图斯对齐.
结论:
- 拟议的方法为高精度EOM对齐提供了强大的解决方案.
- 在关键光学系统中成功解决了同时对齐的挑战.
- 在量子通信和成像等苛刻的应用中提高性能.
