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Dengbiao Jiang1, Nian Tao1, Kelong Zhu1
1School of Computer Science, Jiangsu University of Science and Technology, Zhenjiang 212003, China.
ImbDef-GAN为工业环境生成真实的缺陷图像,克服数据稀缺. 这种深度学习框架通过创建多样化,良好的缺陷样本来提高缺陷检测的准确性.
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