Biasing of Metal-Semiconductor Junctions
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Jinhong Park1, Dohyeon Gil1, Se Jin Park1
1School of Electronic and Electrical Engineering, Kyungpook National University, 80 Daehakro, Bukgu, Daegu 41566, Republic of Korea.
在无连接晶体管中的氧化和氧化层的高温回火显著提高了设备性能和偏差稳定性. 这个过程是可靠,高性能氧化物电子的关键.
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