Time-frequency analysis: a tool to discriminate artefacts from near-field optical data

D Barchiesi1

  • 1Laboratoire de Nanotechnologie et d'Instrumentation Optique, Université de Technologie de Troyes, 12 rue Marie Curie, BP 2060, F-10010 Troyes cedex, France. dominique.barchiesi@univ-troyes.fr

Journal of Microscopy
|April 20, 2001
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