Overview of Microscopy Techniques
Atomic Force Microscopy
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Dylan Stewart Barker1, Philip James Blowey1, Timothy Brown1
1The School of Physics and Astronomy, Bragg Centre for Materials Research, The University of Leeds, Leeds LS2 9JT, United Kingdom.
自动扫描探针显微镜的尖端分类至关重要. 模板匹配 (TM) 为机器学习提供了更快,更有效的数据替代方案,实现了与原子分辨率成像相比较的准确性.
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